更*的**OMRON光纤同轴位移传感器
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产品名称: 更*的**OMRON光纤同轴位移传感器
产品型号: -
产品展商: 日本OMRON
产品文档: 无相关文档
简单介绍
更*的**OMRON光纤同轴位移传感器
实现“边移动边稳定测量”。
ZW-7000/5000系列充分发挥了白光共焦方式的优点
应对不同材质、曲面均能游刃有余
近来，随着产品设计多样化，
检查外观时对单个部件的品质管理要求越来越*，
人们期望能够在不降低节拍的情况下进行品质检查，
，即使各种材质和形状混在一起也能进行稳定测量。
激光位移传感器在测量段差及间隙时，
每次都要花费调整时间。
更*的**OMRON光纤同轴位移传感器
更*的**OMRON光纤同轴位移传感器
的详细介绍
更*的**OMRON光纤同轴位移传感器
实现“边移动边稳定测量”。
ZW-7000/5000系列充分发挥了白光共焦方式的优点
应对不同材质、曲面均能游刃有余
近来，随着产品设计多样化，
检查外观时对单个部件的品质管理要求越来越*，
人们期望能够在不降低节拍的情况下进行品质检查，
，即使各种材质和形状混在一起也能进行稳定测量。
激光位移传感器在测量段差及间隙时，
每次都要花费调整时间。
白光共焦位移传感器无需区分使用传感头和安装方向，
存在发生多面反射导致形状轮廓模糊、边缘检测位置波动、
位置检测精度下降等问题。ZW-5000凭借10μm的小光点，
可避免发生多面反射，形状轮廓清晰，从而提*位置检测精度。
根据材质的不同，以往的激光位移传感器需要改变传感头的种类和安装方向，
可边移动边进行各种材质的测量。
使用以往的激光位移传感器时，
可1次性测量近似于实际形状的*度。
使用激光位移传感器时，移动测量会导致精度劣化，
来自工件的多重反射光会诱发测量值跳动，
因此无法掌握本来希望测量的“平坦度”。
另外，传感头的朝向和测量线的方向会造成更大的偏差。
白光共焦位移传感器不受多重反射光的影响，
需要增加平均次数，因此出现了形状再现性较差的问题。
ZW-7000可实现短20μs的*速采样，
测量对象物体的形状和材质可能会影响测量。
即使无平均化处理，也可忠实测量形状。
使用传感头ZW-S7010/ZW-S5010时的代表值。
2. 有切削痕迹、测量线等的工件。
注. 刊载的测量图均为代表例。
实际使用时，请事先在实机上确认。
在制造现场，为了提*效率，
ZW-7000/5000系列的传感头利用了白光共焦方式的优点，
机器人和工作台在组装和检查中得到广泛应用。
随着制造装置本身不断小型化，需要简化测量设备中的装置组装和操作。
超小型、轻量化，可轻松安装到有空间限制的装置和移动部，有助于加快节拍。
更*的**OMRON光纤同轴位移传感器
